邁克爾遜干涉儀是一種基于光干涉原理設(shè)計的精密測量儀器，其思想在于利用波的疊加性來獲取波的相位信息，從而獲得實驗中所關(guān)心的物理量。利用所謂的分光鏡(也叫半透半反鏡或半反鏡)將一束光(或其他類型的電磁輻射)分成兩半。
 

　　其中一束光(稱為參考光束)照射到一面鏡子上，然后從那里照射到屏幕、照相機或其他探測器上；另一束光則打在或穿過待測量的物體，然后打在第二面鏡子上，再通過分光鏡打在同一個屏幕上。第二個波束與第一個波束有一個額外的距離或經(jīng)歷了一些不同的條件，因此它的相位會稍微偏離。當兩束光在屏幕上相遇時，它們會發(fā)生重疊和干涉，它們之間的相位差會形成明暗區(qū)域的圖案，即一組干涉條紋。亮區(qū)是兩條光束相加(相長)變亮的地方，而暗區(qū)則是兩個光束相減(相消)的地方。
 

　　邁克爾遜干涉儀特點：
 

　　高精度：以光波作為測量尺度，將被測物理量轉(zhuǎn)化為光程差，最終以干涉條紋反映被測信息。由于光的波長非常短，能夠?qū)崿F(xiàn)高精度測量。
 

　　高靈敏度：能夠探測到微小的光程差變化，并轉(zhuǎn)化為相應(yīng)的干涉條紋變化。因此，具有高靈敏度的特點，能夠用于測量微小的物理量變化。
 

　　非接觸式測量：采用非接觸式的測量方式，避免了因接觸而產(chǎn)生的誤差和損傷。這使得干涉儀在測量脆弱或易變形的物體時具有特殊的優(yōu)勢。
 

　　廣泛適用性：可用于測量長度、厚度、表面形貌、折射率等多種物理量，具有廣泛的適用性。同時，還可以與其他光學元件和測量技術(shù)相結(jié)合，實現(xiàn)更加復(fù)雜和準確的測量任務(wù)。
 

　　易受環(huán)境影響：測量結(jié)果容易受到環(huán)境因素的影響，如溫度、濕度、氣壓等。因此，在進行測量時，需要嚴格控制環(huán)境因素，以確保測量結(jié)果的準確性和可靠性。